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——研发测试协同管理工具,将测试自动化贯穿到芯片产品研发生命周期中,相比于传统单点工具可更加快速实现各环节研发与测试协同,支持研发测试计划导入,测试用例IP化管理及自动化执行,低代码用例开发,更加有效实现测试数据分析与探索,帮助设计公司建立高效测试流程体系自动化及标准化。
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润物细无声
2024.06.15 14:13
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两块6571同时Burst Pattern报错
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润物细无声
2024.06.15 13:46
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内卷时代,从手动到自动化,如何全面提升芯片硅后验证的研发效能
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管理-小G
2024.06.04 16:02
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如何突破实验室DFT Patterns验证的测试覆盖率与效率瓶颈
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根据众多芯片设计公司案例中DFT工程师目前遇到的典型挑战,看看他们是如何实现了实验室验证的测试覆盖率与效率的显著提升。
管理-小G
2024.06.04 15:48
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2024.05.10 19:09
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2024.03.07 19:25
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倒霉的熊二
2024.01.26 09:55
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倒霉的熊二
2024.01.12 15:59
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倒霉的熊二
2024.01.12 15:48
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已回答
倒霉的熊二
2023.12.08 17:37
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长虹半导体的质量
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b89488304192
2023.12.13 19:55
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关于 NI 6570/1 PPMU最高可以到7V的疑问
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微信用户
2023.11.22 16:11
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[手册] OneTest 快速开始
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关于NI SMU Single Point/Sequence Mode的运行逻辑差异
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[视频] 太多已有测试脚本需要整合?— OneTest实验室自动化测试平台玩转Python和LabVIEW
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管理-小G
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